光伏组件常见的问题有热斑和隐裂等。由于这些质量问题隐藏在电池板内部,或光伏电站运营一段时间后才发生,在电池板进场验收时难以识别,需借助专业设备进行检测。
热斑形成原因及检测方法
光伏组件热斑是指组件在阳光照射下,由于部分电池片受到遮挡无法工作,使得被遮盖的部分升温远远大于未被遮盖部分,致使温度过高出现烧坏的暗斑。光伏组件热斑的形成主要由两个内在因素构成,即内阻和电池片自身暗电流。
太阳能热斑会严重的破坏太阳电池组件或系统,需要对太阳电池组件进行热斑检测,使相对发热均匀的电池片进行组合或维护,以避免组件所产生的能量被热斑的组件所消耗,同时避免由于热斑可能给太阳能组件或系统的寿命带来的威胁。
使用红外热像仪可以简便快捷检测出组件热斑,红外线热像仪可利用热成像技术,以可见热图显示被测目标温度及其分布。
在正常情况下,各电池片的温度分布均匀;如果存在组件矩阵中有个别电池片温度出现异常过高,就说明此电池片可能有问题,已经由正常光能转电能的工作状态,变为电池组件的负载消耗电能发热,影响整个电池组件的转化功率,此时需要更换温度过高的电池片。
FLIR红外热像仪的独特应用
红外热像仪和数据采集器、红外点温仪相比较,有自身的优点:
1 通过红外线热像仪检测目标电路时,不需要断电,操作方便,同时非接触测量使原有的温度场不受干扰;
2 图像直观、快捷,方便检测者在同时间和相同的环境下得到同一块组件上不同电池块的温度,容易找出热斑;
3 反应速度较快,小于1秒;
4 FLIR热像仪画中画及热叠加技术:用户采用FLIR画中画及热叠加技术,除了可以拍摄红外图像外,还可以同时捕获一幅可见光照片,并将其融合在一起,有助于第一时间识别和定位故障。如下图可疑故障点。
隐裂形成原因及检测方法
隐裂是指电池片中出现细小裂纹,电池片的隐裂会加速电池片功率衰减,影响组件的正常使用寿命,同时电池片的隐裂会在机械载荷下扩大,有可能导致开路性破坏,隐裂还可能会导致热斑效应。 隐裂的产生是由于多方面原因共同作用造成的,组件受力不均匀,或在运输、倒运过程中剧烈的抖动都有可能造成电池片的隐裂。
FLIR单晶/多晶硅太阳能电池片隐裂无损检测测试图片
测试条件: 1 将电池片直接放置在阳光下照射;
2 电极未短接;
3 未加载反向电流;
单晶硅太阳能电池片隐裂无损检测(使用长波非制冷红外热像仪在未加载反向电流时拍摄的红外热图)
多晶硅太阳能电池片隐裂无损检测(使用长波非制冷红外热像仪在未加载反向电流时拍摄的红外热图)
热斑形成原因及检测方法
光伏组件热斑是指组件在阳光照射下,由于部分电池片受到遮挡无法工作,使得被遮盖的部分升温远远大于未被遮盖部分,致使温度过高出现烧坏的暗斑。光伏组件热斑的形成主要由两个内在因素构成,即内阻和电池片自身暗电流。
太阳能热斑会严重的破坏太阳电池组件或系统,需要对太阳电池组件进行热斑检测,使相对发热均匀的电池片进行组合或维护,以避免组件所产生的能量被热斑的组件所消耗,同时避免由于热斑可能给太阳能组件或系统的寿命带来的威胁。
使用红外热像仪可以简便快捷检测出组件热斑,红外线热像仪可利用热成像技术,以可见热图显示被测目标温度及其分布。
在正常情况下,各电池片的温度分布均匀;如果存在组件矩阵中有个别电池片温度出现异常过高,就说明此电池片可能有问题,已经由正常光能转电能的工作状态,变为电池组件的负载消耗电能发热,影响整个电池组件的转化功率,此时需要更换温度过高的电池片。
FLIR红外热像仪的独特应用
红外热像仪和数据采集器、红外点温仪相比较,有自身的优点:
1 通过红外线热像仪检测目标电路时,不需要断电,操作方便,同时非接触测量使原有的温度场不受干扰;
2 图像直观、快捷,方便检测者在同时间和相同的环境下得到同一块组件上不同电池块的温度,容易找出热斑;
3 反应速度较快,小于1秒;
4 FLIR热像仪画中画及热叠加技术:用户采用FLIR画中画及热叠加技术,除了可以拍摄红外图像外,还可以同时捕获一幅可见光照片,并将其融合在一起,有助于第一时间识别和定位故障。如下图可疑故障点。
隐裂形成原因及检测方法
隐裂是指电池片中出现细小裂纹,电池片的隐裂会加速电池片功率衰减,影响组件的正常使用寿命,同时电池片的隐裂会在机械载荷下扩大,有可能导致开路性破坏,隐裂还可能会导致热斑效应。 隐裂的产生是由于多方面原因共同作用造成的,组件受力不均匀,或在运输、倒运过程中剧烈的抖动都有可能造成电池片的隐裂。
FLIR单晶/多晶硅太阳能电池片隐裂无损检测测试图片
测试条件: 1 将电池片直接放置在阳光下照射;
2 电极未短接;
3 未加载反向电流;
单晶硅太阳能电池片隐裂无损检测(使用长波非制冷红外热像仪在未加载反向电流时拍摄的红外热图)
多晶硅太阳能电池片隐裂无损检测(使用长波非制冷红外热像仪在未加载反向电流时拍摄的红外热图)