组件 组件常见EL缺陷 组件EL（Electroluminescence）检测中文名为电致发光缺陷检测，是根据硅材料的电致发光原理对组件进行缺陷检测。给晶体硅电池组件通入1-1.5倍Isc的正向电流，硅片会发出1000-1100nm的红外光，同时摄像头可以捕捉到这 12-29 / 光伏
